Trịnh , V.C. và c.s. 2020. DETERMINATION OF THE COINCIDENCE CORRECTION FACTOR ON MEASURING SEMICONDUCTOR DETECTOR EXPERIMENTAL EFFICIENCY. Tạp chí Khoa học Trường Đại học Sư phạm TP Hồ Chí Minh. 17, 9 (tháng 9 2020), 1703. DOI:https://doi.org/10.54607/hcmue.js.17.9.2597(2020).