Trịnh , V. C., Trần , T. A., Hồ , M. D., Hồ , V. D., Nguyễn , T. T., & Hà , A. T. (2020). DETERMINATION OF THE COINCIDENCE CORRECTION FACTOR ON MEASURING SEMICONDUCTOR DETECTOR EXPERIMENTAL EFFICIENCY. Tạp chí Khoa học Trường Đại học Sư phạm TP Hồ Chí Minh, 17(9), 1703. https://doi.org/10.54607/hcmue.js.17.9.2597(2020)