TRỊNH , Văn Cường; TRẦN , Tuấn Anh; HỒ , Mạnh Dũng; HỒ , Văn Doanh; NGUYỄN , Thị Thọ; HÀ , Anh Tú. DETERMINATION OF THE COINCIDENCE CORRECTION FACTOR ON MEASURING SEMICONDUCTOR DETECTOR EXPERIMENTAL EFFICIENCY. Tạp chí Khoa học Trường Đại học Sư phạm TP Hồ Chí Minh, [S. l.], v. 17, n. 9, p. 1703, 2020. DOI: 10.54607/hcmue.js.17.9.2597(2020). Disponível em: https://journal.hcmue.edu.vn/index.php/hcmuejos/article/view/2597. Acesso em: 14 tháng 3. 2025.