Trịnh , V. C. và c.s. (2020) “DETERMINATION OF THE COINCIDENCE CORRECTION FACTOR ON MEASURING SEMICONDUCTOR DETECTOR EXPERIMENTAL EFFICIENCY”, Tạp chí Khoa học Trường Đại học Sư phạm TP Hồ Chí Minh, 17(9), tr 1703. doi: 10.54607/hcmue.js.17.9.2597(2020).