V. C. Trịnh, T. A. Trần, M. D. Hồ, V. D. Hồ, T. T. Nguyễn, và A. T. Hà, “DETERMINATION OF THE COINCIDENCE CORRECTION FACTOR ON MEASURING SEMICONDUCTOR DETECTOR EXPERIMENTAL EFFICIENCY”, Tạp chí Khoa học, vol 17, số p.h 9, tr 1703, tháng 9 2020.