Trịnh , Văn Cường, và c.s. “DETERMINATION OF THE COINCIDENCE CORRECTION FACTOR ON MEASURING SEMICONDUCTOR DETECTOR EXPERIMENTAL EFFICIENCY”. Tạp Chí Khoa học Trường Đại học Sư phạm Thành phố Hồ Chí Minh, vol 17, số p.h 9, Tháng Chín 2020, tr 1703, doi:10.54607/hcmue.js.17.9.2597(2020).