Trịnh , Văn Cường, Tuấn Anh Trần, Mạnh Dũng Hồ, Văn Doanh Hồ, Thị Thọ Nguyễn, và Anh Tú Hà. “DETERMINATION OF THE COINCIDENCE CORRECTION FACTOR ON MEASURING SEMICONDUCTOR DETECTOR EXPERIMENTAL EFFICIENCY”. Tạp chí Khoa học Trường Đại học Sư phạm TP Hồ Chí Minh 17, no. 9 (Tháng Chín 30, 2020): 1703. Truy cập Tháng Ba 14, 2025. https://journal.hcmue.edu.vn/index.php/hcmuejos/article/view/2597.