Trịnh VC, Trần TA, Hồ MD, Hồ VD, Nguyễn TT, Hà AT. DETERMINATION OF THE COINCIDENCE CORRECTION FACTOR ON MEASURING SEMICONDUCTOR DETECTOR EXPERIMENTAL EFFICIENCY. Tạp chí Khoa học [Internet]. 30 Tháng Chín 2020 [cited 11 Tháng Năm 2025];17(9):1703. Available at: https://journal.hcmue.edu.vn/index.php/hcmuejos/article/view/2597